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Espectrofotómetro ofrece posibilidad de elegir opciones de detector

Por el equipo editorial de Labmedica en Español
Actualizado el 01 Feb 2008
Un nuevo espectrofotómetro es capaz de analizar una gama significativamente expandida de materiales avanzados, incluyendo revestimientos muy reflectivos y antireflectivos, todo tipo de vidrio desde el transparente hasta el vidrio de seguridad altamente absorbente y todo tipo de filtros ópticos.

El sistema es el primer espectrofotómetro comercialmente disponible que incluye la posibilidad de escoger el detector en un solo instrumento. Esferas integrantes de alto desempeño y un accesorio universal de reflectancia suministran una medición más exacta y mayor flexibilidad y sensibilidad. Unos compartimentos de muestreo removibles gemelos para aplicaciones estándar y personalizadas le dan más flexibilidad al sistema.

PerkinElmer Life and Analytical Sciences (Shelton, CA, EUA; www.perkinelmer.com) lanzó el espectrofotómetro, Lambda 1050 en la Sociedad de Ingenieros de Instrumentación Fotográfica (SPIE) Photonics West, en Enero 19-24, 2008, en San José (CA, EUA). Con su diseño único de tres detectores, el Lambda tiene una gama total de análisis entre 175-3.300 nm. Un detector de arseniuro de indio galio (InGaAs) permite los análisis expandidos en el intervalo de 800-2,600 nm para mediciones de alta sensibilidad en el cercano infrarrojo (CIR).

Richard Begley, presidente, Analytical Sciences, PerkinElmer, Inc., dijo: "Con la adición del Lambda 1050, PerkinElmer ha expandido su serie de instrumento de alto desempeño para apoyar el análisis desde el UV profundo hasta el cercano IR”.

El desempeño del nuevo espectrofotómetro por todo el intervalo espectral beneficia a varios mercados de crecimiento rápido en los que las presiones de innovación y ambientales requieren resultados exactos: óptica y tecnologías de pantalla, suministrando una resolución mayor y sensibilidad en la región del CIR para todo tipo de muestras: revestimientos ópticos, dando mayor exactitud, resolución y sensibilidad en la región del CIR para la banda ancha y recubrimientos antireflectivos de silicona y todos los filtros ópticos de película delgada; vidrio, permitiendo las mediciones exactas de transmitancia y absorbancia con mayor velocidad, exactitud e intervalo dinámico en todos los tipos de material de vidrio.


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